Caractérisation microstructurale des matériaux
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Caractérisation microstructurale des matériaux

Analyse par rayonnements X et électronique.

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Caractérisation microstructurale des matériaux

Analyse par rayonnements X et électronique.

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À propos de ce livre

Cet ouvrage présente de façons exhaustive et pédagogique les bases physiques et méthodologiques de caractérisation des matériaux basées sur l'utilisation des rayonnements X et électronique. Rédigé par l'un des meilleurs spécialistes francophones du domaine, les six chapitres de cet ouvrage couvrent l'ensemble de la discipline, depuis l'exposé du langage spécialisé de la cristallographie jusqu'aux méthodes fines impliquant les grands instruments scientifiques. Les méthodes basées sur l'usage du rayonnement X et du rayonnement électronique et mettant en oeuvre la diffraction ou l'imagerie sont exposées en détail, tout comme les nombreux modes d'imagerie électronique. Un chapitre entier est par ailleurs dévolu à la présentation des spectroscopies utiles tant à la caractérisation d'ordre chimique que celle d'ordre structural. Illustré de nombreux exemples et d'exercices résolus, ce manuel constitue une véritable référence pour les étudiants de second cycle d'écoles d'ingénieur, de Master, ainsi que pour les praticiens désireux d'approfondir leurs connaissances dans le domaine.

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Informations

Éditeur
EPFL PRESS
Année
2011
ISBN
9782889142644
Sujet
Tecnología e ingeniería
Sous-sujet
Ciencias de los materiales

Table des matières

  1. AVANT-PROPOS
  2. TABLE DES MATIÈRES
  3. INTRODUCTION
  4. 1 ÉLÉMENTS DE CRISTALLOGRAPHIE
  5. 2 DIFFRACTION PAR LES CRISTAUX
  6. 3 RADIOCRISTALLOGRAPHIE X
  7. 4 DIFFRACTION PAR LES RAYONNEMENTS CORPUSCULAIRES
  8. 5 IMAGERIE ÉLECTRONIQUE
  9. 6 SPECTROSCOPIES X ET ÉLECTRONIQUE
  10. ANNEXE A RÉSEAUX ET GROUPES À DEUX DIMENSIONS
  11. ANNEXE B TRANSFORMÉE DE FOURIER, PRODUIT DE CONVOLUTION ET FONCTION DE PATTERSON
  12. ANNEXE C COEFFICIENT DE DEBYE-WALLER
  13. ANNEXE D RAPPELS SUR LA STRUCTURE ÉLECTRONIQUE D’UN ATOME
  14. ANNEXE E OPTIQUE DIFFRACTIVE : RÉSEAU ZONÉ ET LENTILLE DE FRESNEL
  15. ANNEXE F FACTEUR DE FORME ET GÉOMÉTRIE DU CRISTAL
  16. ANNEXE G RELATION ENTRE FACTEUR DE DIFFUSION ÉLECTRONIQUE ET POTENTIEL
  17. ANNEXE H FACTEUR DE DIFFUSION ÉLECTRONIQUE DANS LE MODÈLE DE WENTZEL-YUKAWA
  18. ANNEXE I CORRECTEURS D’ABERRATIONS
  19. ANNEXE J COMPLÉMENTS À L’IMAGERIE DE HAUTE RÉSOLUTION
  20. ANNEXE K RÈGLE D’OR DE FERMI ET SECTIONS EFFICACES DE PERTES
  21. EXERCICES
  22. SOLUTION DES EXERCICES
  23. LISTE DES SYMBOLES
  24. LISTE DES ACRONYMES
  25. DÉFINITIONS ET VALEURS DE QUELQUES GRANDEURS PHYSIQUES
  26. INDEX